Современные тренды в высокотехнологических индустриях, такие как электрификация автомобилей, разработка беспилотных автомобилей, внедрение сетей мобильной связи 5G требуют соответствующей электронной компонентной базы (ЭКБ). Требуемая ЭКБ — это как высокомощные микросхемы для управления электроприводом, так и высокочастотные микросхемы миллиметрового диапазона для телефонов и сетей следующего поколения.

Данные микросхемы требуют разработки новых измерительных методик, новых тестеров, по-иному необходимо организовывать как снятие характеристик в лабораторных условиях, так и производственное тестирование.

Портфолио

В нашем портфолио имеются продукты и решения для:

  • Тестирование высокомощных транзисторов и микросхем (до 4000В, до 400А)

  • Тестирование ВЧ микросхем (RF IC) и ВЧ микроконтроллеров (RF MCU)

  • Тестирование цифровых микросхем (до 200МГц, до 512 каналов)

  • Тестирование микросхем смешанного сигнала (до 24 бит с выборкой 5 ГГц, до 12,5 Гбит последовательной линии)

Услуги

  • Разработка тестовых решений для определения характеристик и производства.

  • Разработка методов тестирования, библиотек измерений и тестовых программ.

  • Тестирование интегральных схем 5G, включая испытание по беспроводной связи.

  • Проектирование печатных плат.

  • Монтаж полупроводниковых тестовых систем.

  • Разработка драйверов Handler/Prober.

  • Управление распределенными тестовыми системами на основе SystemLink.

  • Управление централизованными системами и системами на основе облачных технологий.

Тестеры

TSMixed-Тестер для входного контроля аналоговых, цифровых, аналого-цифровых ИС и систем в сборке

Тестер TSMixed представляет собой бюджетный программно-аппаратный комплекс для проведения функционального контроля, тестирования, измерения статических и динамических параметров различных изделий.

TSSemi 1200A

Контрольно-измерительный тестер для мощных полупроводниковых приборов (далее тестер) предназначен для автоматизированного контроля статических и динамических параметров мощных полупроводниковых приборов на

TSAnalog-Тестер для входного контроля аналоговых ИС и печатных плат в сборе

  Тестер TSAnalog представляет собой бюджетный программно-аппаратный комплекс для проведения функционального контроля, измерения статических и динамических параметров аналоговых интегральных схем и систем в сборке широкой

TSDigital-Тестер для входного контроля цифровых ИС и печатных плат в сборе

Тестер TSDigital представляет собой бюджетный программно-аппаратный комплекс для проведения функционального контроля, измерения статических и динамических параметров цифровых интегральных схем и систем в сборке широкой

Тестовые решения

Система для автоматизированного тестирования ИС для управления питанием

Система предназначена для автоматизированного тестирования линейных и импульсных преобразователей постоянного напряжения.  Система обеспечивает измерение статических и динамических параметров ИС для управления питанием до 60 В и 10 А как в корпусе так на пластине.

Система тестирования операционных усилителей

Система предназначена для измерения параметров постоянного тока и для обнаружения неполадок в операционных усилителях.

Универсальная система тестирования электронных компонентов

Система предназначена для тестирования электронных компонентов различного типа и назначения. Универсальность системы обеспечивается широким набором измерительных возможностей в сочетании с модульной архитектурой тестовой

Система тестирования высокоскоростных АЦП

Система предназначена для функционального и параметрического контроля динамических и статических параметров высокоскоростных АЦП (до 1 ГГц). Система тестирования основана на платформе NI PXI. Программное обеспечение разработано в графической среде программирования NI LabVIEW.

ПО

OTA Power Measurement Toolkit for CATR Method

“OTA Power Measurement Toolkit for CATR Method” is a set of functions that allow to perform Effective Isotropic Radiated Power (EIRP), Total Radiated Power (TRP) and Sensitivity Measurements in Over-the-Air (OTA) Test Setup using Compact Antenna Test Range (CATR) Method according to 3GPP 38.810 Specification.

Испытательное ПО для определения надежности полупроводниковых пластин

Испытания на надежность уже давно служат методом обеспечения требуемых характеристик полупроводниковых устройств в течение заданного срока эксплуатации.

Библиотека для анализатора тестовых сигналов АЦП

Библиотека для анализатора тестовых сигналов АЦП предназначена для ускорения процесса разработки, повышения надежности и эффективности измерительных программ для автоматизированных тестовых систем аналого-цифровых преобразователей (АЦП).

Аппаратные продукты

Семейство высокоточных источников-измерителей VCS

VCS - это серия высокомощных источников-измерителей, предназначенных для задания / измерения токов до 400A и напряжений до 1200 В. Модульная архитектура позволяет подключать более одного источника-измерителя к одной шине управления и расширять общую пропускную способность каналов.

Генератор и анализатор высокого напряжения

Генератор и анализатор высокого напряжения - прибор, предназначенный для исследования характеристик различных материалов с помощью пьезосеточных модулей. Прибор управляеться с ПК или ноутбука с помощью простого в использовании графического интерфейса пользователя.

Модуль сопряжения для считывания импеданса

Модуль сопряжения предназначен для использования в автоматизированных системах тестирования для измерения импеданса интегральных микросхем на полупроводниковых пластинах.

Платформы прототипирования

Методы измерения параметров ЭКБ

Платформа «Методы измерения параметров ЭКБ» основана на платформе NI VirtualBench. Программное обеспечение разработано в графической среде программирования NI LabVIEW. Платформа предназначена для проведения лабораторных работ по курсам «Электроника», «Измерительная техника», «Системы автоматизированного тестирования» и «Информационно-измерительные системы».

АДРЕС

Инженерный Городок
Нор Норк, 0062
Ереван

КОНТАКТЫ

info@yeae.am
+374 (60) 519 710