Микроэлектроника > Универсальная система тестирования электронных компонентов

ОБЗОР

 

Система предназначена для тестирования электронных компонентов различного типа и назначения. Универсальность системы обеспечивается широким набором измерительных возможностей в сочетании с модульной архитектурой тестовой платформы. Система состоит из следующих частей:

  • Платформа NI PXI

  • Соединительный блок для установки оснасток

  • Тестовые оснастки с контактирующими устройствами

  • Специализированное программное обеспечение

Тестируемые компоненты

  • Транзисторы

  • Тиристоры

  • Диоды

  • Светодиоды

  • Реле

  • Оптоэлектронные коммутаторы

  • Конденсаторы

  • Резисторы

  • Операционные усилители

  • Логические компоненты


АДРЕС

Инженерный Городок
Нор Норк, 0062
Ереван

КОНТАКТЫ

info@yeae.am
+374 (60) 519 710