ОБЗОР
Система предназначена для тестирования электронных компонентов различного типа и назначения. Универсальность системы обеспечивается широким набором измерительных возможностей в сочетании с модульной архитектурой тестовой платформы. Система состоит из следующих частей:
-
Платформа NI PXI
-
Соединительный блок для установки оснасток
-
Тестовые оснастки с контактирующими устройствами
-
Специализированное программное обеспечение
Тестируемые компоненты
-
Транзисторы
-
Тиристоры
-
Диоды
-
Светодиоды
-
Реле
-
Оптоэлектронные коммутаторы
-
Конденсаторы
-
Резисторы
-
Операционные усилители
-
Логические компоненты