ОБЗОР
Тестер TSSemi1200A представляет собой программно-аппаратный комплекс для проведения функционального контроля, тестирования, измерения статических и динамических параметров мощных GaN и MOSFET транзисторов в корпусе и на полупроводниковой пластине.
При дооснащении дополнительными опциями и комплектующими тестер позволяет производить полнофункциональное и параметрическое тестирование мощных диодов (FRD), биполярных транзисторов (ВТ), биполярных транзисторов с изолированным затвором (IGBT), тиристоров, стабилитронов, оптопар.
Конструктивно тестер выполнен в едином корпусе для удобства перемещения в зависимости от поставленной задачи (измерение микросхем в корпусе или на пластине).
Тестер может применяться для контроля параметров полупроводниковых приборов, как на стадии входного контроля, серийного производства и испытаний, так и на стадии разработки.