ОБЗОР

Система предназначена для функционального и параметрического контроля динамических и статических параметров высокоскоростных АЦП (до 1 ГГц). Система тестирования основана на платформе NI PXI. Программное обеспечение разработано в графической среде программирования NI LabVIEW.

Система разработана для промышленных и исследовательских испытаний. Параметры системы можно гибко конфигурировать согласно требованиям.

Измеряемые параметры

Статические параметры

• Ток потребления аналоговой части АЦП

• Ток потребления цифровой части АЦП

• Значения разности между максимальным и минимальным выходным напряжением

• Напряжения логических уровней синхросигнала

• Входное сопротивление

• Погрешность смещения

• Диапазон полной шкалы

• Интегральная нелинейность

• Дифференциальная нелинейность

Динамические параметры

• Отношение “сигнал-шум”

• Отношение сигнала к шуму и искажениям

• Динамический диапазон без паразитных составляющих

• Общее гармоническое искажение

• Гармонические составляющие второй и третей степени

• Дрожание апертуры