Микроэлектроника > Библиотека для анализатора тестовых сигналов АЦП

ОБЗОР

 

Библиотека для анализатора тестовых сигналов АЦП предназначена для ускорения процесса разработки, повышения надежности и эффективности измерительных программ для автоматизированных тестовых систем аналого-цифровых преобразователей (АЦП).

Библиотеку можно применять для испытания АЦП на различных стадиях производственного процесса, а также для лабораторных испытаний в научно-исследовательских подразделениях.

Библиотека предоставляет готовые примеры для демонстрации измерения параметров дифференциальной и интегральной нелинейностей и параметров шума и искажений.


Список измеряемых параметров

  • Выходное дифференциальное напряжение (V OD )

  • Выходное напряжение смещения (V OS )

  • Входное сопротивление (R IN )

  • Выходное сопротивление (R OUT )

  • Ошибка полной шкалы (FSRE)

  • Ошибка коэффициента усиления (GE)

  • Ошибка смещения (V OFF )

  • Единица младшего разряда (LSB)

  • Ошибка интегральной нелинейности (INLE)

  • Ошибка дифференциальной нелинейности (DNLE)

  • Коэффициент подавления пульсации питания (AC, DC PSRR)

  • Отношение сигнал/шум (SNR)

  • Отношение сигнала к шуму и искажениям (SINAD)

  • Полные гармонические искажения (THD)

  • Динамический диапазон свободный от помех (SFDR)

  • Уровень гармоник (до 15)

  • Апертурный джиттер (tAJ)


АДРЕС

Инженерный Городок
Нор Норк, 0062
Ереван

КОНТАКТЫ

info@yeae.am
+374 (60) 519 710